Преимущество микроскопии плоскостного освещения по сравнению со стандартной микроскопии с проходящим/отраженным светом заключается в том, что Вы освещаете только узкую полоску образца в фокусе объектива. Это позволяет повысить эффективность детектирования и минимизировать фотоповреждение, так как в образец попадают только те фотоны, которые затем формируют полезный сигнал.
Существующие методы микроскопии плоскостного освещения используют объективы только с низкой числовой апертурой (NA), так как стандартная конфигурация систем для данной техники подразумевает установку образца на пересечении рабочих областей 2 объективов (объектива для детектирования и объектива для освещения), что требует большой длины рабочей области данных объективов. Низкая числовая апертура объективов влечет за собой низкое разрешение и менее яркие изображения.
Разработчиками системы Tilt из Mizar Imaging удалось решить эту проблему и создать такую конфигурацию, при которой можно реализовать метод микроскопии плоскостного освещения с использованием объектива с высокой числовой апертурой. Данный метод был назван LITE (Lateral Interference Tilted Excitation). Его особенность заключается в том, что плоский луч света, который создается цилиндрической линзой, наклонен под небольшим углом. Подробнее о данном методе Вы можете узнать в карточке товара Tilt, а также из лекции разработчика технологии Пола Мэддока.