Пятиосевой термостолик для FIB/SEM с нагревом и охлаждением APC200-MSR
APC200-MSR — термостолик с нагревом и охлаждением для проведения in situ исследований в FIB/SEM и сканирующих электронных микроскопах (СЭМ). Модель сочетает точный температурный контроль в диапазоне от −180 до +200 °C с пятиосевым позиционированием X/Y/Z/R/T, позволяя изменять положение и ориентацию исследуемого образца непосредственно внутри камеры микроскопа.
Термостолики с нагревом/охлаждением и механическим воздействием интегрируются в камеры большинства сканирующих электронных микроскопов через внешние вакуумные фланцы и не требуют модификации конструкции СЭМ. Точное управление температурой и высокая стабильность системы создают оптимальные условия для наблюдения в реальном времени за динамическими микроструктурными процессами.
Системы совместимы с электронными микроскопами ведущих производителей, включая ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific и GIANT QUANTUM.
Особенности APC200-MSR
Ключевой особенностью APC200-MSR является возможность пятиосевого позиционирования образца по осям X/Y/Z/R/T в FIB/SEM. Такая конструкция обеспечивает гибкое управление положением образца и расширяет возможности проведения комплексных in situ исследований. Термостолик обеспечивает точное управление температурой в диапазоне −180…+200 °C и позволяет безопасно транспортировать, позиционировать и исследовать образцы при криогенных температурах.
Охлаждение осуществляется с помощью жидкого азота, а нагрев — резистивным методом. Стабильность поддержания температуры составляет ±0,1 °C, что особенно важно при изучении температурно-зависимых изменений структуры и свойств материалов.
Преимущества
- Диапазон температур от −180 до +200 °C для исследований при криогенных и повышенных температурах.
- Пятиосевое позиционирование X/Y/Z/R/T непосредственно внутри FIB/SEM.
- Возможность точного изменения положения и ориентации образца в процессе исследования.
- Высокая стабильность температуры ±0,1 °C.
- Охлаждение образца с использованием жидкого азота.
- Резистивный нагрев с точным контролем температуры.
- Максимальная скорость нагрева — до 30 °C/мин.
- Максимальная скорость охлаждения — до 15 °C/мин.
- Возможность работы с образцами при криогенных температурах.
- Интеграция в FIB/SEM и СЭМ без необходимости модификации камеры микроскопа.
- Высокоточное управление температурой.
- Профессиональное программное обеспечение для температурного контроля.
- Возможность индивидуальной конфигурации системы в соответствии с требованиями заказчика.