APC200 — компактный термостолик с нагревом и охлаждением для проведения in situ исследований в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) в широком диапазоне температур от −190 до +200 °C. Система позволяет непосредственно в камере СЭМ исследовать изменение микроструктуры и свойств материалов при охлаждении и нагреве.
Термостолики с нагревом/охлаждением и механическим воздействием интегрируются в камеры большинства сканирующих электронных микроскопов через внешний вакуумный фланец и не требуют модификации конструкции СЭМ. Точный контроль температуры и высокая стабильность обеспечивают условия для наблюдения в реальном времени за динамическими микроструктурными процессами в исследуемых образцах.
Системы совместимы со сканирующими электронными микроскопами ведущих производителей, включая ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific и GIANT QUANTUM.
Особенности
Термостолик APC200 обеспечивает охлаждение образца жидким азотом и резистивный нагрев с точным программным управлением температурой. Диапазон рабочих температур составляет от −190 до +200 °C, а стабильность поддержания температуры — ±0,1 °C.
Благодаря специально разработанному внешнему фланцевому узлу установка термостолика не требует внесения изменений во внутреннюю конструкцию электронного микроскопа. Система поддерживает несколько режимов температурного контроля: поддержание заданной температуры, линейное изменение температуры с заданной скоростью и выполнение многоступенчатых температурных программ.
Это позволяет использовать APC200 для in situ наблюдения фазовых превращений, структурных изменений и других температурно-зависимых процессов непосредственно в СЭМ.
Преимущества
- Широкий температурный диапазон: от −190 до +200 °C.
- Высокая стабильность температуры: ±0,1 °C.
- Быстрый нагрев: максимальная скорость до 150 °C/мин.
- Охлаждение жидким азотом: максимальная скорость охлаждения до 30 °C/мин.
- Интеграция без модификации СЭМ благодаря внешнему вакуумному фланцу.
- Компактная конструкция для удобной установки в камере электронного микроскопа.
- Возможность использования индивидуальных держателей образцов для СЭМ различных производителей.
- Быстрая замена держателя без инструментов.
- Опциональный датчик температуры образца для дополнительного контроля.
- Защита от электромагнитных помех (EMI) для стабильной работы системы и получения качественных данных.
- Высокоточное управление температурой.
- Профессиональное программное обеспечение для температурного контроля.
- Возможность индивидуальной конфигурации системы под требования заказчика.