Металлографический микроскоп MJ31
MJ31 — металлографический микроскоп для исследования прозрачных и непрозрачных образцов в отраженном и проходящем свете. Прибор предназначен для контроля качества материалов, анализа микроструктуры и решения исследовательских задач в промышленности и научных лабораториях.
Микроскоп широко применяется при контроле полупроводниковых пластин, плоскопанельных дисплеев (FPD), печатных плат (PCB), металлических материалов, прецизионного инструмента, а также в геологии, электронике, материаловедении, образовательных и научно-исследовательских учреждениях.
Особенности
- Работа в проходящем и отраженном свете.
- Светодиодные источники освещения с низким тепловыделением для длительной непрерывной работы.
- Осветитель по Кёлеру (Köhler illumination), обеспечивающий равномерное и качественное освещение образца.
- Возможность проведения наблюдений в поляризованном свете благодаря встроенным поляризационным компонентам.
- Поддержка темнопольного наблюдения (опционально).
- Длиннофокусные планахроматические объективы позволяют работать как с препаратами под покровным стеклом, так и с непокрытыми образцами.
- Большое поле зрения окуляров повышает комфорт при длительных исследованиях.
Области применения
- металлография и материаловедение;
- контроль качества металлических изделий;
- производство полупроводников;
- инспекция печатных плат (PCB);
- контроль плоскопанельных дисплеев (FPD);
- микроэлектроника;
- геология;
- промышленное производство;
- научные исследования и образование.