- Система позиционирования в плоскости XY может быть добавлена к моделям столиков с боковой загрузкой образца для точного позиционирования образцов в пределах смотрового окошка;
- подходят для образцов разных форматов;
- Позволяет сохранить лучшую термическую однородность образца при малой апертуре окна для проходящего света, перемещая образец;
- Микрометрические винты с разрешением 10 мкм и ходом ± 5 мм от центрального положения;
- Столики с боковой загрузкой стандартно поставляются с держателем предметных стекол микроскопа, который можно использовать с представленной системой позиционирования;
- В комплект входит вспомогательная система для размещения области образца на одной линии с отверстием предметного столика.