Особенности:
- Сканирующий ион-проводящий микроскоп;
- Конфокальный модуль для СИПМ;
- Работа с живыми клетками;
- Неинвазивные исследования.
Системы сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM)
Особенности:
- Сканирующий ион-проводящий микроскоп;
- Конфокальный модуль для СИПМ;
- Работа с живыми клетками;
- Неинвазивные исследования.
Особенности:
- Точность позиционирования: 0.1 нм;
- Диапазон смещения: 25 мкм;
- Быстрое позиционирование: 13 мм;
- Емкостной сенсор.
Особенности:
- Нанопозиционирование по осям X, Y;
- Разрешение: 0.1 нм;
- Встроенный емкостной датчик;
- Ход: до 60 мкм по 1 оси.
Особенности:
- Механический стенд;
- Анодированный дюралюминий;
- Непроводящая поверхность;
- Интеграция с микроскопом.
Особенности:
- Контроллер для нанопозиционирования;
- 8 входов, 8 выходов;
- Разрешение: 16 бит;
- Светодиодный дисплей.
Особенности:
- Контроллер для нанопозиционирования;
- 3 канала с емкостным датчиком;
- 1 канал без датчика.