Расширение возможностей микроскопов сверхразрешения
Особенности:
- Конфокальная визуализация;
- STED визуализация;
- Разрешение: около 30 нм;
- Интуитивно понятное использование;
- Вес: до 40 кг.
Особенности:
- Оптимизированный STED-режим;
- Снижение дозы облучения образца;
- Управление уровнем облучения;
- Сохраняет разрешение.
Особенности:
- Разрешение: менее 20 нм;
- Значительное улучшение сигнала;
- Низкая доза облучения поля сканирования.
Особенности:
- Разрешение до 25 нм;
- Снижение фотообесцвечивания;
- Повышает качество 3D визуализации.
Особенности:
- Пространственный модулятор света (SLM);
- Настройка разрешения между xy и z;
- Один STED луч;
- Позволяет использовать различные объективы;
- Тип. разрешение: 75 × 75 × 75 нм;
- Максимальная стабильность;
- Коррекция оптических аббераций.
Особенности:
- Импульсный STED лазер: 595 нм;
- Разрешение до 25 нм;
- 2 лазера возбуждения: 488 нм и 518 нм.
Особенности:
- Импульсный STED лазер: 775 нм;
- Разрешение до 20 нм;
- 2 лазера возбуждения: 561 нм и 640 нм.
Особенности:
- Стабилизация образца по оси z;
- Отсутствие дрейфа фокуса;
- Несколько режимов визуализации.
Особенности:
- Выравнивание пучков (STED и возбуждения);
- Корректировка положения образца;
- Выравнивание пинхолов;
- Коррекция формы STED-пучка;
- Юстировка системы за 90 секунд.
Особенности:
- Модули 595 / 775 нм STED;
- RESCue STED;
- easy3D STED;
- Функция Overnight Control;
- Система автофокусировки;
- Нагрев образцов до 37 градусов.
Особенности:
- 2 подвижных фильтра;
- Фильтры с градиентным покрытием;
- Выбор области детектирования;
- Рабочий диапазон: 400 – 800 нм;
- Лавинные фотодиоды для высокой чувствительности (65% - QE).
Особенности:
- Регистрация изображений в проходящем свете;
- Одновременная регистрация конфокальных изображений;
- Одновременная регистрация STED изображений.
Особенности:
- Разрешение: <70 нм;
- 3 непрерывных лазера: 405 нм, 488 нм и 630 нм;
- Для визуализации живых клеток;
- 1 канал со сверхвысоким разрешением.
Особенности:
- Модуль на основе деформируемого зеркала;
- Коррекция аберраций;
- Четкие яркие изображение с глубины образца;
- Повышение производительности микроскопа.
Особенности:
- Эффективное уменьшение фона без артефактов;
- Улучшенное разрешение;
- Обеспечивает точный анализ данных вашего изображения.
