Системы локализованного освещения

Особенности:

- Оптомеханический модуль;

- Фиксированная точечная подсветка;

- Для простых приложений фотоактивации;

- Пятно света в центре поля зрения микроскопа;

- Размер пятна: доли мкм до десятков мкм;

- Для лазерных, LED, ламповых источников;

- Простая установка и юстировка;

- Совместимость с большинством микроскопов.

Особенности:

- Модульная система фотоабляции;

- Высокая плотность мощности;

- Контролируемое повреждение;

- Работа на субклеточном уровне;

- Пятно приближается к дифракционному пределу;

- Контроль освещения (во времени и пространстве);

- Импульсные лазеры  (266 нм, 355 нм, 532 нм);

- Совместимость с большинством микроскопов;

- Простота интеграции в системы визуализации.

Особенности:

- Модульная система освещения;

- Малый размер светового пятна;

- Система освещения на основе сканера;

- Пятно приближается к дифракционному пределу;

- Высокая плотность мощности освещения;

- Управление освещением;

- До 4 волоконных лазеров;

- Лазеры в диапазоне от УФ до ближнего ИК;

- Совместимость с большинством микроскопов;

- Простота интеграции в системы визуализации;

- Для микроскопии и электрофизиологии.

Особенности:

- Модульная система освещения;

- Большой размер светового пятна;

- Система освещения на основе сканера;

- Выбор формы и размера пятна;

- Динамическое, локализованное освещение;

- Совместимость с большинством микроскопов;

- Простота интеграции в системы визуализации;

- Для микроскопии и электрофизиологии.

Особенности:

- Система освещения для TIRF микроскопии;

- Для одномодовых и многомодовых лазеров;

- Простота установки, настройки и запуска;

- Моторизованное движение пятна освещения;

- Джойстик или программное управление;

- Моторизованный широкопольный режим обхода.

Особенности:

- Оптическая система управления лучом;

- Высокая однородность в TIRF и HILO микроскопии;

- Калиброванный угол и глубина проникновения;

- Одновременный многоканальный TIRF;

- Быстрый FRAP;

- Одновременный TIRF и FRAP;

- 3D TIRF сверхвысокого разрешения;

- PALM / STORM / PAINT микроскопия.

Особенности:

- Система освещения;

- Работа на клеточном и субклеточном уровне;

- Для субклеточной нанохирургии и облучения;

- Комбинация с FRAP;

- Фотоактивация через порт ввода волокна;

- Все оптические лучи совмещены;

- Совместимость с конфокальными системами;

- Акустооптическая модуляция;

- Лазерное пятно с ограниченной дифракцией;

- Функция автоматической калибровки.