Арт. APF5000-M1000VP
Система для механических испытаний in situ в СЭМ APSF5000-M1200NH с нагревом до 1200 °C
APSF5000-M1200NH — система для механических испытаний материалов in situ в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ/SEM) с возможностью нагрева образца до 1200 °C. Система позволяет непосредственно в процессе СЭМ-наблюдения исследовать изменение микроструктуры материала под действием механической нагрузки и температуры.
APSF5000-M1200NH обеспечивает точное управление механическим нагружением и температурой, позволяя регистрировать в режиме реального времени микроструктурные изменения, процессы деформации и разрушения образца. Максимальное усилие составляет 5000 Н, точность измерения усилия — 0,1 % от полной шкалы, диапазон перемещения — 10 мм.
Система интегрируется со сканирующим электронным микроскопом через внешний вакуумный фланец и не требует модификации самого микроскопа. Поддерживается совместимость с СЭМ ведущих производителей, включая ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific и GIANT. Конструкция также сохраняет возможность проведения EBSD-анализа.
Особенности
- механические испытания in situ непосредственно в СЭМ;
- исследование микроструктуры материала в процессе механического нагружения;
- проведение высокотемпературных испытаний до 1200 °C;
- максимальное усилие — 5000 Н;
- точность измерения усилия — 0,1 % от полной шкалы;
- перемещение — до 10 мм;
- скорость перемещения траверсы — 0,03–2 мм/мин;
- испытания на растяжение, сжатие, сдвиг и изгиб;
- стабильность температуры ±0,1 °C;
- максимальная скорость нагрева — 150 °C/мин;
- контролируемое охлаждение;
- интеграция через внешний вакуумный фланец без модификации СЭМ;
- совместимость с EBSD-анализом;
- совместимость со сканирующими электронными микроскопами ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific и GIANT;
- возможность адаптации системы под различные модели СЭМ;
- возможность индивидуальной конфигурации.
Механические испытания in situ в сканирующем электронном микроскопе
APSF5000-M1200NH предназначена для проведения механических испытаний непосредственно внутри камеры сканирующего электронного микроскопа. Такой подход позволяет одновременно прикладывать механическую нагрузку к образцу и наблюдать за происходящими на микроуровне изменениями его структуры.
В отличие от традиционных механических испытаний, при которых микроструктуру исследуют до или после приложения нагрузки, метод in situ SEM позволяет наблюдать развитие процессов деформации и разрушения в режиме реального времени. Система может использоваться для исследования зарождения и распространения трещин, пластической деформации, механизмов разрушения, поведения границ зерен и других микроструктурных изменений материала непосредственно под нагрузкой.
Высокотемпературные испытания in situ до 1200 °C
Температурный модуль APSF5000-M1200NH использует резистивный нагрев и обеспечивает проведение испытаний в диапазоне от комнатной температуры до 1200 °C. Максимальная скорость нагрева достигает 150 °C/мин, а стабильность поддержания температуры составляет ±0,1 °C. Предусмотрена возможность контролируемого охлаждения.
Сочетание высокотемпературного воздействия, механического нагружения и СЭМ-наблюдения позволяет исследовать изменение механических свойств и микроструктуры материалов в условиях, приближенных к реальным высокотемпературным режимам эксплуатации.
Растяжение, сжатие, сдвиг и изгиб
APSF5000-M1200NH поддерживает несколько режимов механических испытаний: растяжение → сжатие → сдвиг → изгиб. Максимальное усилие составляет 5000 Н, диапазон перемещения — 10 мм, а скорость перемещения траверсы регулируется в диапазоне 0,03–2 мм/мин. Возможность использования различных режимов нагрузки позволяет проводить комплексное исследование механического поведения материалов непосредственно внутри сканирующего электронного микроскопа.
Совместимость с EBSD
Конструкция APSF5000-M1200NH сохраняет возможность проведения EBSD (Electron Backscatter Diffraction) — дифракции обратнорассеянных электронов. Совмещение механических испытаний in situ с EBSD-анализом расширяет возможности исследования эволюции микроструктуры материала под нагрузкой. Такой подход может применяться для изучения изменений кристаллографической ориентации, локальной деформации, поведения зерен и других структурных процессов непосредственно в ходе эксперимента.
Интеграция с СЭМ без модификации микроскопа
Система интегрируется в сканирующий электронный микроскоп посредством внешнего вакуумного фланца и не требует внесения конструктивных изменений в сам микроскоп. APSF5000-M1200NH совместима с СЭМ ведущих производителей, включая ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific, GIANT. Для интеграции с конкретной моделью сканирующего электронного микроскопа доступны индивидуальные адаптерные пластины и вакуумные фланцы.
