Новые возможности in situ исследований в СЭМ: термостолики и система механических испытаний

Оборудование интегрируется в камеры сканирующих электронных микроскопов с использованием внешних вакуумных фланцев и не требует модификации самого микроскопа. Решения совместимы с СЭМ ведущих производителей, включая ZEISS, Hitachi, Thermo Fisher Scientific и GIANT QUANTUM.

От температурных экспериментов до термомеханических исследований

Три системы решают разные экспериментальные задачи и позволяют подобрать конфигурацию в зависимости от необходимого типа воздействия на образец:

• APC200 — температурные in situ исследования в СЭМ в широком диапазоне от −190 до +200 °C;
• APC200-MSR — нагрев и криогенное охлаждение от −180 до +200 °C в сочетании с пятиосевым позиционированием X/Y/Z/R/T для работы в FIB/SEM;
• APSF5000-M1200NH — механические in situ испытания с усилием до 5000 Н и возможностью высокотемпературного исследования образцов.

Таким образом, оборудование позволяет перейти от традиционного исследования образца до и после внешнего воздействия к наблюдению динамических процессов непосредственно во время эксперимента. Исследователь может контролировать температуру или механическую нагрузку и одновременно фиксировать связанные с ними изменения микроструктуры.

Такие возможности востребованы в материаловедении, металлургии, исследованиях сплавов, полимеров, композитов, функциональных и других перспективных материалов, где важно установить взаимосвязь между условиями воздействия и структурными изменениями на микроуровне.

Специалисты АЗИМУТ ФОТОНИКС помогут подобрать систему под задачи исследования, используемую модель электронного микроскопа, требуемый температурный диапазон и параметры механического воздействия.